Каталог товаров

Измерения и контроль в микроэлектронике

317296

Дубовой Н. Д., Осокин В. И., Очков А. С.

Удовлетворительное

В продаже экз.: 1

0,4 кг.

Germany
 balta
Положительный 96.8% (172)
Продать такой же продукт

Задать вопрос продавцу



  Выход

Информация о доставке:

- По всему миру из Германии-f

Описание

Пособие для студентов специальностей электронной техники. Главы: Измерение, контроль и испытания ИМС (интегральных микросхем). Основные понятия и опредения; Технология производства ИМС; Контрольно-измерительные операции при производстве ИМС; Методы измерения и контроля параметров технологических сред, полупроводниковых пластин, эпитаксиальных и полупроводниковых структур; Общие методы измерения и контроля электрических параметров ИМС, Технические (аппаратные) средства автоматических систем измерения и контроля электрических параметров ИМС; Программное обеспечение автоматических систем измерения и контроля электрических параметров ИМС; Методы контроля цифровых ИМС; Методы контроля аналоговых ИМС; Методы контроля ИМС ЦАП и АЦП; Примеры автоматического оборудования контроля ИМС. Схемы, графики, таблицы, формулы. Список литературы - 19 названий.


Характеристики

издательство Высшая школа
год выпуска 1984
переплет Твёрдый

Все книги автора:


Информация о продавце |

Тип продавца: Фирма

Подробнее

balta
SIA Mandariny

Meža prospekts 62 - 4
Jūrmala, LV-2010
Latvia
.

Другие товары из этой категории